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Nos últimos anos, os avanços na tecnologia de semicondutores de potência têm levado à construção de chaves com capacidades cada vez mais elevadas de condução de corrente e bloqueio de tensão, possibilitando sua utilização em diversas aplicações até então não exploradas, como a supressão de arco elétrico em painéis de distribuição de energia elétrica. Nessa aplicação, emprega-se uma chave semicondutora de potência baseada em tiristores, cujo bom funcionamento é um requisito vital para os propósitos do esquema de proteção adotado. O objetivo deste trabalho de pesquisa tecnológica é propor e avaliar algoritmos de gerenciamento da degradação desse dispositivo. Parte-se da hipótese de que é possível implementar técnicas de diagnóstico e predição de sua vida útil remanescente, com base na medição do comportamento dos sinais elétricos nos seus terminais, assegurando ainda o seu adequado disparo. Uma revisão bibliográfica sobre as características desses sinais foi realizada e, com base nisso, algoritmos foram criados, implementados e simulados digitalmente em FPGA. Os resultados obtidos até o momento demonstram que a hipótese é válida.

Dispositivo Semicondutor de Potência. Gate-Driver. Confiabilidade, Segurança em Eletricidade.